PHI nanoTOF3+



特征

先进的多功能TOF-SIMS具有更强大的微区分析能力，更加出色的分析精度



飞行时间二次离子质谱仪

最新一代 TRIFT 质量分析器，更好的质量分辨率

适用于绝缘材料的无人值守自动化多样品分析

独特的离子束技术

平行成像 MS/MS 功能，助力有机大分子结构分析

多功能选配附件

主离子束激发的二次离子会以不同角度和能量从样品表面飞 出，特别是对于有高度差异和形貌不规则的样品，即使相同 的二次离子在分析器中会存在飞行时间上的差异，因此导致 质量分辨率变差，并对谱峰形状和背景产生影响。 TRIFT质量分析器可以同时对二次离子发射角度和能量进行 校正， 保证相同二次离子的飞行时间一致， 所以TRIFT兼顾 了高质量分辨率和高检测灵敏度优势，而且对于不平整样品 的成像可以减少阴影效应。

实现高精度分析的一次离子枪

先进的离子束技术实现更高质量分辨

PHI nanoTOF3+ 能够提供高质量分辨和高空间分辨的TOF-SIMS分析:在高质量分辨模式下，其空间分辨率优于500nm ;在高空间分辨模式下，其空间分辨模式优于50 nm。通过结合高强度离子源、高精度脉冲组件和高分辨率质量分析器，可以实现低噪声、高灵敏度和高质量分辨率的测量;在这两种模式下，只需几分钟的测试时间，均可完成采谱分析。