EA8000是，与X射线、CT、X光照相同原理通过X射线透射图像捕捉样品中的金属异物，再通过荧光X射线分析使元素清晰化的异物分析装置。所谓的荧光X射线分析，是指通过将元素分布作为2次元图像而获得的扫描分析，查明金属异物的元素。EA8000在收货检查、进度检查等不良分析现场进行异物或涂抹不均、结构不均等的检查时，协助提高信赖性、成品率。

技术参数1. X射线发生器功率为3KW2. 测角仪为水平测角仪3. 测角仪最小步进为1/10000度4. 测角仪配程序式可变狭缝5. 高反射效率的石墨单色器6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学）7. 小角散射测试组件8. 多用途薄膜测试组件9. 微区测试组件10. In-Plane测试组件（理学）11. 高速探测器D/teX-Ultra12. X

主要特点■ 直接传动高精度转矩马达与优良的光学编码器相结合，确保了仪器的传动速度和精度；■ 全部组件可以拆分为7个模块，同时可以在5个独立自由度上检测样品，适用于粉末、薄膜和块状样品；■ 可以进行常规的晶相识别和定量，可以分析晶体尺寸、晶格应变及结晶度的计算；■ 可以定量分析残余奥氏体、多晶物筛查、晶体结构分析、残余应力分析、薄膜分析、深度剖析、相变纹理和优先取向、纳米粒子分析；■ 光学系统可以在

hermo Scientific ARL EQUINOX 3000 型粉末X射线衍射仪配备的弧形探测器，可同时测量所有角度的衍射峰，因此相比其它衍射仪测试速度更快。这种实时采集方式，十分适用于动态研究。

技术指标： ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围：-110~168●角度精度：0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管 ●探测器：林克斯阵